软化击穿试验仪RJ-20

  适用于检测导体标称直径0.020mm以上3.000mm及以下的漆包圆线和薄膜绕包圆线在热状态下软化后的绝缘性能；

自动测温、控温、温度调节和显示；

根据设定的预热温度、试验时间，仪器自动完成对试样的预加热、加负荷、加试验电压，达到试验时间或试样被击穿时即卸负荷，发出声光报警信号并显示试验时间和温度，整个测试过程自动完成；

自动强迫风冷风扇，使第二次试验能迅速进行；

加热模具采用黄铜制作；

执行标准：GB/T4074.6-2008/IEC 60851-6：1996；

检验标准：JB/T4279.8-2008；

满足GB/T6109-2008标准要求；

软化击穿试验仪RJ-20技术参数：

软化击穿试验仪RJ-20砝码配备：

砝码座：0.25N×1；

砝码座：1N×1；

砝码：0.15N×1，0.25N×1，0.45N×1，1.2N×1，

3.5N×1，4.5N× 2，17N×1，34N×1，35N×1。